X射线衍射仪
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7981/次机时次数
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13947/小时总时长
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收费标准
机时100元/小时 -
设备型号
Rigaku Utima IV -
当前状态
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管理员
黄永清 -
放置地点
山东科技大学青岛校区J21层J2-N109（分析测试实验室Ⅸ）
- 仪器信息
- 预约资源
- 附件下载
- 公告
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名称
X射线衍射仪
资产编号
2012955100
型号
Rigaku Utima IV
规格
产地
日本
厂家
Rigaku corperation
所属品牌
Rigaku
出产日期
购买日期
2012-11-01
所属单位
化学与生物工程学院
使用性质
科研
所属分类
分析仪器与设备
资产负责人
黄永清
联系电话
联系邮箱
放置地点
山东科技大学青岛校区J21层J2-N109（分析测试实验室Ⅸ）
- 主要规格&技术指标
- 主要功能及特色
- 样本检测注意事项
主要规格&技术指标
1、最大输出功率：3kW。
2、扫描方式：thera/thera测角仪，样品水平不动。
3、最小步进：0.0001°。
4、角度重现性：≤0.0001°。
2、扫描方式：thera/thera测角仪，样品水平不动。
3、最小步进：0.0001°。
4、角度重现性：≤0.0001°。
主要功能及特色
1. 粉末样品的物相定性与定量分析。
2. 计算结晶化度、晶粒大小。
3. 确定晶系、晶粒大小与畸变。
4. Rietveld结构分析。
5. 薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度。
6. In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构。
7. 小角散射与纳米材料粒径分布。
8. 微区样品的分析。
2. 计算结晶化度、晶粒大小。
3. 确定晶系、晶粒大小与畸变。
4. Rietveld结构分析。
5. 薄膜样品分析，包括薄膜物相、多层膜厚度、表面粗糙度，电荷密度。
6. In-Plane装置可以同时测量样品垂直方向的结构及样品深度方向的结构。
7. 小角散射与纳米材料粒径分布。
8. 微区样品的分析。
样本检测注意事项
金属材料、无机材料、复合材料、有机材料、纳米材料、超导材料
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